معرفی روش طیف سنجی فتوالکترون پرتو ایکس

توضیحات محصول

فهرست مطالب

1.  مفاهیم پایه در طیف سنجی الکترونی.. 3

1.1.  مطالعه سطوح   3

1.2. دیدگاه تاریخی    5

1.3.   اساس روش طیف سنجی فتوالکترون پرتو ایکس      5

 2. دستگاه شناسی   7

2.1. سیستم های خلاء. 8

2.2. منبع پرتو ایکس      9

2.3. آنالیز کننده های الکترون   13

3. انتخاب و آماده سازی نمونه  14

3.1. شارژ نمونه   15

3.2. اثرات باریکه اشعه ایکس      18

4.  تفسیر طیف های الکترونی   19

4.1. جدایش تراز های نزدیک به هسته   21

4.2. پهنای خطوط    23

4.3.     آنالیز عنصری کمی و کیفی    23

4.4.  ساختار ثانویه   25

5.  تصویر برداری XPS  26

6. XPS حل شده بر حسب زاویه. 27

7. طیف سنجی فتوالکترون پرتو ایکس در مطالعات عملیاتی.. 28

8. طیف سنجی فتوالکترون پرتو ایکس در مطالعه لایه های نازک    29

8.1.    ترکیب و حالت های شیمیایی    30

8.1.1. طیف های اولیه از لایه های نازک     30

8.1.2. طیف های اسکن ناحیه کوچک در فیلم های نازک     31

8.2. آنالیز عمقی    33

8.2.1. آنالیز عمقی غیر مخرب    34

8.2.2. آنالیز عمقی مخرب... 36

8.2.3. ضخامت سنجی لایه های نازک     37

9. نتیجه گیری   40

         مراجع   41